| Обозначение: | ГОСТ 26239.5-84 | |||||
| Статус: | действующий | |||||
| Название рус.: | Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей | |||||
| Название англ.: | Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination | |||||
| Дата актуализации текста: | 19.01.2010 | |||||
| Дата актуализации описания: | 19.01.2010 | |||||
| Дата введения в действие: | 01.01.1986 | |||||
| Дата издания: | 21.01.1985 | |||||
| Дата последнего изменения: | 23.06.2009 | |||||
| Область и условия применения: | Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01 |
|||||
| Список изменений: | № 1 от 01.01.1991 (рег. 26.06.1990) «Срок действия продлен» | |||||
| Также входит в разделы: | ОКС - Общероссийский классификатор стандартов / Электротехника / Полупроводниковые материалы | |||||
|
||||||